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Casa Prodottiapparecchiatura di collaudo non distruttiva

HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD

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Certificazione
La CINA HUATEC GROUP CORPORATION Certificazioni
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Rassegne del cliente
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HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD

HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD
HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD

Grande immagine :  HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD

Dettagli:
Luogo di origine: Cina
Marca: HUATEC
Certificazione: CE
Numero di modello: HXRF-450S
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: 1 PC
Prezzo: USD14145/set - USD15990/set
Imballaggi particolari: Scatola da imballaggio di cartone
Tempi di consegna: 10-15 giorni lavorativi dopo aver ricevuto il vostro pagamento
Termini di pagamento: T/T, PayPal
Capacità di alimentazione: 5sets/month
Contatto

HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD

descrizione
Intervallo dell'elemento di misura:: Alumini (Al) - uranio (U) Rivelatore: SDD
Test time: 10-40s Corrente del tubo: 0-1mA ((controllato da programma)
Alta pressione: 0-50kV ((controllato da programma) Ingrandimento: Ottica: 40-60×
Voltaggio di ingresso:: AC220V ± 10% 50/60HZ
Evidenziare:

Tester per lo spessore del rivestimento XRF

,

Tester per vernici a fluorescenza a raggi X

,

Analizzatore non distruttivo dello spessore del rivestimento

HXRF-450S XRF Tester per lo Spessore di Rivestimenti e Verniciatura a Fluorescenza a Raggi X
Specifiche del Prodotto
Attributo Valore
Intervallo di elementi di misurazione Alluminio (Al) - uranio (U)
Rivelatore SDD
Tempo di test 10-40s
Corrente del tubo 0-1mA (Controllato da programma)
Alta pressione 0-50kV (Controllato da programma)
Ingrandimento Ottica: 40-60×
Tensione di ingresso AC220V±10% 50/60HZ
Panoramica del Prodotto

L'HXRF-450S XRF Tester per lo Spessore di Rivestimenti e Verniciatura a Fluorescenza a Raggi X è uno strumento ad alte prestazioni progettato per la misurazione precisa dello spessore dei rivestimenti e l'analisi dei materiali in vari settori.

Condizioni di Lavoro
  • Temperatura di esercizio: 15-30℃
  • Umidità relativa: 40%~50%
  • Alimentazione: CA: 220V ± 5V
Prestazioni Tecniche
  • Eccellente stabilità a lungo termine con requisiti minimi di calibrazione
  • Nessuna preparazione del campione necessaria per sistemi di rivestimento, campioni solidi o liquidi
  • Prestazioni complete tra cui analisi del rivestimento, analisi qualitativa/quantitativa, analisi del bagno e funzioni statistiche
Applicazioni

Ideale per componenti elettronici, semiconduttori, PCB, FPC, staffe LED, ricambi auto, placcatura funzionale, parti decorative, connettori, terminali, sanitari, gioielli e altri settori per la misurazione dello spessore del rivestimento superficiale e l'analisi dei materiali.

Funzioni di Sicurezza
  • Interfaccia utente semplice con autorizzazione limitata dell'operatore
  • Capacità di manutenzione del supervisore
  • Registrazioni automatiche dell'utilizzo da parte dell'operatore
  • Blocco automatico per la prevenzione di operazioni non autorizzate
  • Sensore della porta della camera del campione
  • Spia di avvertimento raggi X
  • Pulsanti di sicurezza sul pannello frontale
Caratteristiche Principali
  • Misura fino a 5 strati (4 rivestimenti + substrato) simultaneamente
  • Analizza 15 elementi con correzione automatica della linea spettrale
  • Elevata precisione di misurazione (fino a μin) con eccellente stabilità
  • Misurazione rapida non distruttiva (in soli 10 secondi)
  • Analizza solidi e soluzioni con capacità qualitative, semi-quantitative e quantitative
  • Identificazione e classificazione dei materiali
  • Statistiche complete dei dati (media, deviazione standard, ecc.)
  • Molteplici opzioni di output (stampa, PDF, Excel) con report completi
  • Anteprima della posizione di misurazione con ingrandimento ottico 30×
  • Assistenza tecnica e supporto tecnico globale
Parametri Tecnici
Parametro Specifiche
Intervallo di elementi di misurazione Alluminio (Al) - uranio (U)
Rivelatore SDD
Tipi di collimatore Foro singolo fisso (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Sistema del percorso ottico Irraggiamento verticale
Ingrandimento Ottica: 40-60×
Modalità di visualizzazione Spettro elementare, modello di etichetta, elementi e valori di misurazione
Fotocamera Fotocamera industriale ad alta definizione con ingrandimento locale
Applicazioni Rivestimento singolo/doppio, rivestimento in lega, soluzione galvanica
Tensione di ingresso AC220V±10% 50/60HZ
Comunicazione Trasmissione USB ad alta velocità
Dimensioni 555*573*573mm (cavità 410*478*245mm)
Sorgente di raggi X Tubo a luce a micro-fuoco ad alta precisione (bersaglio W)
Funzionalità del software Algoritmo FP, diagnosi/correzione automatica dei guasti, compensazione automatica
Configurazione Standard
Rivelatore a semiconduttore SDD
  • Rivelatore a semiconduttore SDD raffreddato elettricamente
  • Risoluzione: 129 ± 5 EV
  • Modulo circuito di amplificazione per il rilevamento dei raggi X caratteristici del campione
Dispositivo di eccitazione a raggi X
  • Uscita massima della corrente del filamento: 1mA
  • Componente semi-perdita, 50W, raffreddamento ad aria
Trasmettitore ad alta pressione
  • Uscita massima di tensione: 50kV
  • Regolazione controllabile minima di 5kV
  • Protezione da sovraccarico di tensione integrata
HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD 0 HXRF-450S Tester per lo Spessore del Rivestimento XRF con Rivelatore SDD 1

Prodotto Tag:

Macchina di prova non distruttiva,

Apparecchiatura di collaudo di NDT,

strumenti di ispezione di ndt

Dettagli di contatto
HUATEC GROUP CORPORATION

Persona di contatto: Ms. Shifen Yuan

Telefono: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Invia la tua richiesta direttamente a noi (0 / 3000)

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