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Casa Prodottiapparecchiatura di collaudo non distruttiva

Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S

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Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S

Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S
Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S

Grande immagine :  Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S

Dettagli:
Luogo di origine: Cina
Marca: HUATEC
Certificazione: CE
Numero di modello: HXRF-450S
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: 1 pz
Prezzo: USD14145/set - USD15990/set
Imballaggi particolari: Scatola di imballaggio in cartone
Tempi di consegna: 10-15 giorni lavorativi dal ricevimento del pagamento
Termini di pagamento: T/T,Paypal
Capacità di alimentazione: 5 set/mese
Contatto

Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S

descrizione
Intervallo dell'elemento di misura:: Alumini (Al) - uranio (U) Rivelatore: SDD
Tempo di prova: 10-40s Corrente del tubo: 0-1mA ((controllato da programma)
Alta pressione: 0-50kV ((controllato da programma) Ingrandimento: Ottica: 40-60×
Tensione in ingresso:: AC220V±10% 50/60Hz
Evidenziare:

Indicatore di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X

,

Spettometro XRF ad alta stabilità

,

Analizzatore non distruttivo dello spessore del rivestimento

Spettrometro per lo spessore dei rivestimenti a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S
Specifiche del prodotto
Attributo Valore
Intervallo elementi di misurazione Alluminio (Al) - Uranio (U)
Rivelatore SDD
Tempo di prova 10-40s
Corrente del tubo 0-1mA (Controllato da programma)
Alta tensione 0-50kV (Controllato da programma)
Ingrandimento Ottica: 40-60x
Tensione di ingresso AC220V±10% 50/60HZ
Panoramica del prodotto

Il tester per lo spessore dei rivestimenti a fluorescenza a raggi X HXRF-450S è uno strumento ad alte prestazioni progettato per la misurazione precisa dello spessore dei rivestimenti e l'analisi dei materiali in vari settori.

Condizioni di lavoro
  • Temperatura operativa: 15-30°C
  • Umidità relativa: 40%~50%
  • Alimentazione: AC: 220V ± 5V
Prestazioni tecniche
  • Eccellente stabilità a lungo termine con requisiti minimi di calibrazione
  • Nessuna preparazione del campione necessaria per sistemi di rivestimento, campioni solidi o liquidi
  • Prestazioni complete che includono analisi dei rivestimenti, analisi qualitativa/quantitativa, analisi del bagno e funzioni statistiche
Applicazioni

Ideale per componenti elettronici, semiconduttori, PCB, FPC, staffe LED, ricambi auto, placcatura funzionale, parti decorative, connettori, terminali, sanitari, gioielli e altri settori per la misurazione dello spessore dei rivestimenti superficiali e l'analisi dei materiali.

Caratteristiche di sicurezza
  • Interfaccia utente semplice con autorizzazione limitata dell'operatore
  • Capacità di manutenzione del supervisore
  • Registri automatici di utilizzo dell'operatore
  • Blocco automatico per prevenire operazioni non autorizzate
  • Sensore della porta della camera del campione
  • Spia di avviso raggi X
  • Pulsanti di sicurezza sul pannello frontale
Caratteristiche principali
  • Misura fino a 5 strati (4 rivestimenti + substrato) contemporaneamente
  • Analizza 15 elementi con correzione automatica della linea spettrale
  • Elevata precisione di misurazione (fino a μin) con eccellente stabilità
  • Misurazione rapida non distruttiva (veloce come 10s)
  • Analizza solidi e soluzioni con capacità qualitative, semi-quantitative e quantitative
  • Identificazione del materiale e rilevamento della classificazione
  • Statistiche complete sui dati (media, deviazione standard, ecc.)
  • Opzioni di output multiple (stampa, PDF, Excel) con reportistica completa
  • Anteprima della posizione di misurazione con ingrandimento ottico 30x
  • Servizio globale e supporto tecnico
Parametri tecnici
Parametro Specifiche
Intervallo elementi di misurazione Alluminio (Al) - Uranio (U)
Rivelatore SDD
Tipi di collimatore Foro singolo fisso (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Sistema di percorso ottico Irraggiamento verticale
Ingrandimento Ottica: 40-60x
Modalità di visualizzazione Spettro elementare, schema etichette, elementi e valori di misurazione
Telecamera Telecamera industriale ad alta definizione con ingrandimento locale
Applicazioni Rivestimento singolo/doppio, rivestimento in lega, soluzione galvanica
Tensione di ingresso AC220V±10% 50/60HZ
Comunicazione Trasmissione USB ad alta velocità
Dimensioni 555*573*573 mm (cavità 410*478*245 mm)
Sorgente a raggi X Tubo luminoso micro-focalizzato ad alta precisione (target W)
Funzionalità software Algoritmo FP, diagnosi/correzione automatica dei guasti, compensazione automatica
Configurazione standard
Rivelatore a semiconduttore SDD
  • Rivelatore a semiconduttore SDD raffreddato elettricamente
  • Risoluzione: 129 ± 5 EV
  • Modulo circuito di amplificazione per il rilevamento dei raggi X caratteristici del campione
Dispositivo di eccitazione a raggi X
  • Corrente di filamento massima in uscita: 1mA
  • Componente a semi-perdita, 50W, raffreddamento ad aria
Trasmettitore ad alta tensione
  • Tensione massima in uscita: 50kV
  • Regolazione controllabile minima di 5kV
  • Protezione da sovraccarico di tensione integrata
Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S 0 Spettometro di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X ad alta stabilità HXRF-450S 1

Prodotto Tag:

Macchina di prova non distruttiva,

Apparecchiatura di collaudo di NDT,

strumenti di ispezione di ndt

Dettagli di contatto
HUATEC GROUP CORPORATION

Persona di contatto: Ms. Shifen Yuan

Telefono: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Invia la tua richiesta direttamente a noi (0 / 3000)

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