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Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento

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Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento

Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento
Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento

Grande immagine :  Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento

Dettagli:
Luogo di origine: Cina
Marca: HUATEC
Certificazione: CE
Numero di modello: HXRF-450S
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: 1 pz
Prezzo: USD14145/set - USD15990/set
Imballaggi particolari: Scatola di imballaggio in cartone
Tempi di consegna: 10-15 giorni lavorativi dal ricevimento del pagamento
Termini di pagamento: T/T,Paypal
Capacità di alimentazione: 5 set/mese
Contatto

Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento

descrizione
Intervallo dell'elemento di misura:: Alumini (Al) - uranio (U) Rivelatore: SDD
Tempo di prova: 10-40s Corrente del tubo: 0-1mA ((controllato da programma)
Alta pressione: 0-50kV ((controllato da programma) Ingrandimento: Ottica: 40-60×
Tensione in ingresso:: AC220V±10% 50/60Hz
Evidenziare:

Spettrometro a fluorescenza a raggi X analizzatore di rivestimento

,

Misurazione dello spessore del rivestimento EDXRF

,

Analizzatore spettrometro XRF non distruttivo

Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore del rivestimento
Specifiche del prodotto
Attributo Valore
Intervallo elementi di misurazione Alluminio (Al) - Uranio (U)
Rivelatore SDD
Tempo di test 10-40s
Corrente del tubo 0-1mA (Controllato da programma)
Alta tensione 0-50kV (Controllato da programma)
Ingrandimento Ottica: 40-60x
Tensione di ingresso AC220V±10% 50/60HZ
Panoramica del prodotto

Il tester di spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X HXRF-450S è uno strumento ad alte prestazioni progettato per la misurazione precisa dello spessore del rivestimento e l'analisi dei materiali in vari settori.

Condizioni di lavoro
  • Temperatura operativa: 15-30°C
  • Umidità relativa: 40%~50%
  • Alimentazione: AC: 220V ± 5V
Prestazioni tecniche
  • Eccellente stabilità a lungo termine con requisiti di calibrazione minimi
  • Nessuna preparazione del campione necessaria per sistemi di rivestimento, campioni solidi o liquidi
  • Prestazioni complete che includono analisi del rivestimento, analisi qualitativa/quantitativa, analisi del bagno e funzioni statistiche
Applicazioni

Ideale per componenti elettronici, semiconduttori, PCB, FPC, staffe LED, ricambi auto, placcatura funzionale, parti decorative, connettori, terminali, sanitari, gioielli e altri settori per la misurazione dello spessore del rivestimento superficiale e l'analisi dei materiali.

Caratteristiche di sicurezza
  • Interfaccia utente semplice con autorizzazione limitata dell'operatore
  • Capacità di manutenzione del supervisore
  • Registri automatici di utilizzo dell'operatore
  • Blocco automatico per prevenire operazioni non autorizzate
  • Sensore porta camera campione
  • Spia di avviso raggi X
  • Pulsanti di sicurezza sul pannello frontale
Caratteristiche principali
  • Misura fino a 5 strati (4 rivestimenti + substrato) contemporaneamente
  • Analizza 15 elementi con correzione automatica della linea spettrale
  • Elevata precisione di misurazione (fino a μin) con eccellente stabilità
  • Misurazione rapida non distruttiva (veloce come 10s)
  • Analizza solidi e soluzioni con capacità qualitative, semi-quantitative e quantitative
  • Identificazione del materiale e rilevamento della classificazione
  • Statistiche complete sui dati (media, deviazione standard, ecc.)
  • Opzioni di output multiple (stampa, PDF, Excel) con reportistica completa
  • Anteprima posizione di misurazione con ingrandimento ottico 30x
  • Servizio globale e supporto tecnico
Parametri tecnici
Parametro Specifiche
Intervallo elementi di misurazione Alluminio (Al) - Uranio (U)
Rivelatore SDD
Tipi di collimatore Foro singolo fisso (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Sistema percorso ottico Irraggiamento verticale
Ingrandimento Ottica: 40-60x
Modalità di visualizzazione Spettro elementare, schema etichette, elementi e valori di misurazione
Telecamera Telecamera industriale ad alta definizione con ingrandimento locale
Applicazioni Rivestimento singolo/doppio, rivestimento in lega, soluzione galvanica
Tensione di ingresso AC220V±10% 50/60HZ
Comunicazione Trasmissione USB ad alta velocità
Dimensioni 555*573*573mm (cavità 410*478*245mm)
Sorgente a raggi X Tubo luminoso micro-focalizzante ad alta precisione (Target W)
Funzionalità software Algoritmo FP, diagnosi/correzione automatica guasti, compensazione automatica
Configurazione standard
Rivelatore a semiconduttore SDD
  • Rivelatore a semiconduttore SDD raffreddato elettricamente
  • Risoluzione: 129 ± 5 EV
  • Modulo circuito di amplificazione per rilevamento raggi X caratteristici del campione
Dispositivo di eccitazione a raggi X
  • Corrente di filamento massima in uscita: 1mA
  • Componente semi-loss, 50W, raffreddamento ad aria
Trasmettitore ad alta tensione
  • Tensione massima in uscita: 50kV
  • Regolazione controllabile minima 5kV
  • Protezione da sovraccarico di tensione integrata
Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento 0 Spettrometro a fluorescenza a raggi X a dispersione di energia HXRF-450S Analizzatore di spessore di rivestimento 1

Prodotto Tag:

Macchina di prova non distruttiva,

Apparecchiatura di collaudo di NDT,

strumenti di ispezione di ndt

Dettagli di contatto
HUATEC GROUP CORPORATION

Persona di contatto: Ms. Shifen Yuan

Telefono: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Invia la tua richiesta direttamente a noi (0 / 3000)

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