Detettore avanzato di difetti a raggi X basato su sensore di silicio amorfo

Rilevatore di difetti a raggi X basato su sensore al silicio amorfo, rilevatore a pannello piatto wireless portatile

H3024WCH-HG È un rilevatore a pannello piatto wireless portatile basato su sensore al silicio amorfo, adatto per l'ispezione di condutture, controlli di sicurezza, energia e altri settori.

Sensore
Tipo di recettore: a-Si

Scintillatore CsI:TI

Area attiva: 239 x 304 mm

Risoluzione: 2816 x 3584

Dimensione pixel: 85 μm

Alimentazione e batteria

Ingresso adattatore: CA 100-240V, 50-60Hz

Uscita adattatore: CC 24V, 2.7A

Consumo energetico<16 W

Durata della batteria: 6 ore

Tempo di ricarica: 4,5 ore

Qualità dell'immagine
Risoluzione limite: 5,9 LP/mm

Intervallo di energia: 20-160 KV

Gamma dinamica: ≥76 DB

Elettrico e interfaccia
Conversione A/D 16 bit

Interfaccia dati Gigabit Ethernet

Tempo di acquisizione cablato: 1s, wireless: 3

Distanza wireless 50m (opzionale 500m)

Controllo dell'esposizione Software/AED

Tempo massimo di esposizione 180s

Memoria integrata 4 GB DDR4, scheda SD da 8 GB

Meccanico
Dimensioni 333,6×322×14,9 mm

Peso 2,3 kg

Materiale Leghe di alluminio e magnesio

Pannello frontale Fibra di carbonio

Margine minimo<5mm

Ambientale

Temperatura 10-35°C (operativo)；-10~50°C (stoccaggio)

Umidità 30-70% RH (senza condensa)

Classe IP IP54 (IP67 opzionale)